X射線(xiàn)CT測量誤差主要來(lái)源是什么？

　　X射線(xiàn)CT探傷技術(shù)的優(yōu)勢在于可以對產(chǎn)品的內外結構和尺寸進(jìn)行無(wú)損測量，一次掃描即可同時(shí)完成產(chǎn)品的尺寸檢測與材料質(zhì)量控制，相比于傳統接觸式的或光學(xué)設備的難以探測內部結構的掃描方式，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個(gè)理想的解決方案。但是，由于工業(yè)ct檢測過(guò)程受很多復雜因素影響，目前為止對于工業(yè)CT設備的測量精度及置信度尚無(wú)法給出確切的回答，這也成為限制工業(yè)CT測量技術(shù)發(fā)展的瓶頸。

　　X射線(xiàn)CT測量誤差主要來(lái)源分析可以從以下幾個(gè)方面著(zhù)手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測量結果對工業(yè)CT數據進(jìn)行校準時(shí)，尤其對于使用平板探測器的系統來(lái)說(shuō)，需要校準的尺寸應包含樣品X-Y和X-Z兩個(gè)平面(即平行和垂直與探測器的平面)，工業(yè)CT數據在這兩個(gè)方向上單個(gè)像素尺寸往往并不相等，這取決于重建矩陣的選擇。故在工業(yè)CT掃描過(guò)程中，應盡量避免樣品放置時(shí)上下端面與射線(xiàn)平行，或者說(shuō)應該盡量避免樣品上下端面垂直于旋轉軸，否則導致樣品上下端面應采樣不足，帶來(lái)SDK重建為引，消除因采樣不足導致的重建為引可以通過(guò)改變樣品的放置方式來(lái)解決，例如以15度放置。
 

　　從投影重建圖像過(guò)程中，最主要的影響因素來(lái)自于射線(xiàn)硬化及射線(xiàn)散射帶來(lái)的圖像，硬化和散射偽影，導致圖像灰度分布，偏離真實(shí)分布，給后續測量及閾值風(fēng)格帶來(lái)困難，這些偽影如果不經(jīng)過(guò)適當的校正，會(huì )導致測量的可靠性降低。

　　一般來(lái)說(shuō)減弱射線(xiàn)硬化影響，可以通過(guò)在采集數據時(shí)放置前置濾波板來(lái)調節，也可以通過(guò)后續硬化校正算法來(lái)改善。

　　雖然硬化、散射偽影和FDK重建偽影導致DR實(shí)時(shí)成像設備工業(yè)CT的圖像灰度分布偏離真實(shí)的分布給后續的測量及閾值分割帶的困難，但是，我們通過(guò)專(zhuān)業(yè)軟件和提高算法進(jìn)行校正，會(huì )減少誤差，將工業(yè)CT的測量精度提高，在可接受的范圍內。

　　數據處理過(guò)程中影響工業(yè)電視測量的主要因素有邊界閾值的選擇。例如工業(yè)CT重建之后獲得物體的三維模型，在這一數據進(jìn)行測量之前，首先需要選擇適當的域值算法來(lái)分割材料與空氣或不同材料之間的邊界，也就是所謂的邊緣檢測過(guò)程，傳統的閾值算法可能不夠精確，現在我們將通過(guò)改進(jìn)算法，例如使用基于實(shí)際表面的邊緣檢測算法，或通過(guò)搜索圖像法的方向像素變化能提高邊緣檢測的精度。